高低溫循環(huán)測(cè)試的主要目的是模擬產(chǎn)品在不同溫度環(huán)境下的工作狀態(tài),評(píng)估產(chǎn)品在極端溫度條件下的性能和可靠性。通過(guò)這項(xiàng)測(cè)試,可以發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品在溫度變化時(shí)的潛在問(wèn)題,提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。
在樣品斷電的狀態(tài)下,先將溫度下降到-50℃,保持4個(gè)小時(shí);請(qǐng)勿在樣品通電的狀態(tài)下進(jìn)行低溫測(cè)試,非常重要,因?yàn)橥姞顟B(tài)下,芯片本身就會(huì)產(chǎn)生+20℃以上溫度,所以在通電狀態(tài)下,通常比較容易通過(guò)低溫測(cè)試,先將其“凍透”,再次通電進(jìn)行測(cè)試。 2、開(kāi)機(jī),對(duì)樣品進(jìn)行性能測(cè)試,對(duì)比性能與常溫相比是否正常。 3、進(jìn)行老化測(cè)試,觀(guān)察是否有數(shù)據(jù)對(duì)比錯(cuò)誤。 4、升溫到+90℃,保持4個(gè)小時(shí),與低溫測(cè)試相反,升溫過(guò)程不斷電,保持芯片內(nèi)部的溫度一直處于高溫狀態(tài),4個(gè)小時(shí)后執(zhí)行2、3、4測(cè)試步驟。
老化測(cè)試的作用
01對(duì)于工藝制造過(guò)程中可能存在的一系列缺陷,如表面沾污、引線(xiàn)焊接不良、溝道漏電、硅片裂紋、氧化層缺陷和局部發(fā)熱點(diǎn)等都有較好的篩選效果
02對(duì)于無(wú)缺陷的元器件,老化也可促使其電參數(shù)穩(wěn)定
光老化測(cè)試
光老化是戶(hù)外使用材料受到的主要老化破壞,對(duì)于室內(nèi)使用材料,也會(huì)受到一定程度的光老化。模擬光老化主要的三種燈源各有,碳弧燈早發(fā)明使用,建立的測(cè)量體系較早、很多日本標(biāo)準(zhǔn)和纖維材料方面的標(biāo)準(zhǔn)都使用碳弧燈,但由于碳弧燈價(jià)格較高、性能不夠穩(wěn)定(燈管使用90小時(shí)后需要更換),已經(jīng)逐漸被氙弧燈、紫外燈代替。氙燈在模擬自然光方面有較大優(yōu)勢(shì),價(jià)格也相對(duì)較低,適合多數(shù)產(chǎn)品的使用
紫外燈產(chǎn)生的是400nm以下的光,能較好地加速模擬自然光中紫外線(xiàn)對(duì)材料的破壞作用,加速因子比氙燈要高,光源穩(wěn)定性也比氙燈要好,但容易產(chǎn)生非自然光產(chǎn)出的破壞(尤其是UVB燈)
高低溫循環(huán)
主要參考標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423,JG/T 25建筑涂料涂層耐凍循環(huán)性測(cè)定法等標(biāo)準(zhǔn),可以按照不同產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中,關(guān)于高低溫循環(huán)、凍融循環(huán)的相關(guān)測(cè)試方法來(lái)開(kāi)展試驗(yàn)。
主要用于建筑涂料、特殊環(huán)境使用設(shè)備等檢測(cè)。
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