優(yōu)爾鴻信(原富士康科技集團(tuán)華南檢測中心)成立于1996年，是一家全國性、綜合性的立第三方檢測服務(wù)機(jī)構(gòu)。在深圳、昆山、武漢、鄭州、煙臺、成都、重慶等全國主要城市設(shè)有實(shí)驗(yàn)室22個，主要檢測儀器4300余臺，擁有2200人的管理、技術(shù)人員團(tuán)隊

SEM+EDS分析：
放大倍數(shù): 5~30萬倍
解 析 度 : 3 nm
分析元素范圍: Be(4)~U(92)
大樣品尺寸: 200 mm
分析對象: 固體樣品,金屬、塑料和電子零件.
功能與目的： 微區(qū)成分分析
失效模式/機(jī)制分析
斷口形貌觀察等

SEM+EDS分析：
高能電子束轟擊樣品表面，激發(fā)各種信號?？梢詫μ沾?、金屬、粉末、塑料等樣品進(jìn)行形貌觀察及成分分析：
SEM主要利用背散射電子（BEI）和二次電子（SEI）來成像
EDS通過特征X-RAY獲取樣品表面的成分信息。

優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)昆山檢測中心 SEM+EDS分析測試范圍
1.IMC檢查（IMC Inspection）
2.錫須觀察（Tin Whisker Inspection）
3.元素分析（Element Analysis）
4.金屬顆粒觀察（Observation of metal particles）

優(yōu)爾鴻信檢測昆山檢測中心SEM+EDS分析通過CNAS認(rèn)可，可執(zhí)行的測試標(biāo)準(zhǔn)GB/T17359-2012, JY/T0584-2020,JEDEC-KESD22-A121A-2008(2014)等

EDS： 入射電子束可停留在被觀察區(qū)域上的任何位置.X射線在直徑1微米的體積內(nèi)產(chǎn)生,可對試樣表面元素的分布進(jìn)行質(zhì)和量的分析。