配合不同探測器的選擇，使Sigma 廣泛地適用于您的應用：無論是正在開發(fā)的新材料、用于質量檢查的顆粒還是生物或地質標本，該電鏡可助您研究各種樣品。在極端條件下，利用可變壓力（VP）成像，借助NanoVPlite，即使在低電壓下，也能在非導體上獲得出色的圖像和分析結果。

掃描電鏡及X射線能譜儀或電子探針為準確鑒定鋼中非金屬夾雜物屬性提供了非?？煽康募夹g，他可以將D類等非金屬夾雜物的二維和三維形貌、與所含元素的X射線元素面分布圖、與其內含有元素或所含簡單氧化物的重量百分數(shù)和原子百分數(shù)定量分析結果有機結合起來，對這種D類非金屬夾雜物給出一個全新的詮釋。由此，作者提出了非金屬夾雜物的相結構概念，用“復相夾雜物”代替目前常用的“復雜夾雜物”或“復合夾雜物”，重新認識這個對鋼性能有重要影響的D類非金屬夾雜物，與業(yè)界同行商榷。

蔡司熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡SIGMA 500采用Gemini電子束非交叉光路設計，突破了傳統(tǒng)設計中電子束交叉三次造成能量擴散的限制。束流適中，大大降低了色差對成像質量的影響。鏡頭鏡筒內置電子束加速器，無需切換減速模式即可實現(xiàn)的低電壓成像。低20V可成像，樣品類型不受限制。透鏡鏡筒物鏡采用靜電透鏡和電磁透鏡相結合的方式，在工作距離范圍內沒有磁場，可在高倍率下觀察磁性材料。環(huán)形二次電子探測器In-Lens安裝在鏡筒的正光路上。圓柱形一體化超大樣品室配備5軸全自動中心樣品臺，可容納直徑250mm的超大樣品。同一品牌的電子顯微鏡和光學顯微鏡可以組合觀察(可選)，只有一個通用的樣品架和配套的軟件是Shuttle&Find，可以充分發(fā)揮光鏡和電子鏡各自的優(yōu)勢

特點
使用多視角成像功能查找樣品在成像物鏡中的佳位置
在進行樣品信息的后期處理前，從不同視角采集信息對整個樣品成像
通過重組不同視角的信息來提高圖像的分辨率，然后使用特殊的去卷積算法進一步提高圖像質量

使用全新樣品定位方法創(chuàng)建多視角（ Multiview） 數(shù)據(jù)
使用折射率 n=1.38 的 Scale 介質（Hama 等，Nat Neurosci 期刊，2011 年），或折射率 n=1.45 的水性澄清液（例如：CelExplorer Labs 公司生產(chǎn)的 FocusClear? 產(chǎn)品）進行透明處理的組織來完成實驗
使用可選的觸發(fā)界面維持生理條件，充分發(fā)揮成像信息和環(huán)境條件控制兩者相結合的優(yōu)勢
光透技術

組織透明處理技術能夠讓您深入大型生物樣品內，例如：組織切片、大腦、胚胎、器官球狀體或活組織切片。您可以使用增強的光學穿透深度來捕獲整個器官的熒光信號。這也令其成為一項具有發(fā)展前景的技術，例如：檢測小鼠大腦神經(jīng)元網(wǎng)絡。