非金屬礦石光譜儀是一種用于分析非金屬礦石樣品的儀器。它通過測量礦石樣品在不同波長范圍內的光譜特征，可以確定其成分和結構。 非金屬礦石光譜儀通常采用光電二極管陣列、光柵或干涉儀等光學元件，將樣品反射、透射或發(fā)射的光信號分解成不同波長的光譜。然后，通過對光譜進行分析和比較，可以確定樣品中的元素組成、化學鍵類型、結構特征等信息。 非金屬礦石光譜儀具有高靈敏度、高分辨率、快速測量等優(yōu)點。

非金屬礦石光譜儀是一種用于分析非金屬礦石樣品的儀器。它利用光譜技術，通過測量樣品在不同波長下的光吸收、反射或發(fā)射特性，來確定樣品的成分、結構和性質。 非金屬礦石光譜儀通常包括以下組成部分：
1. 光源：產生特定波長的光線，常見的光源有氙燈、鎢燈等。
2. 光柵或光晶體：用于分散光線，使不同波長的光線分開。
3. 探測器：用于測量樣品吸收、反射或發(fā)射的光信號，并將其轉化為電信號。
4. 光學系統(tǒng)：包括透鏡、光束分束器等。

便攜式XRF技術以及其它分析技術正在改變我們日常從事的現(xiàn)代化測井的方式。向地理信息系統(tǒng)（GIS）、地質信息管理系統(tǒng)（GIMS），以及3維可視化和建模軟件包實時傳送客觀測井信息的技術，使采礦行業(yè)獲得了革命性的發(fā)展。

技術參數(shù)：

　　◇測量參數(shù)： 測定C、Si、CEL、△Q、△QM，計算抗拉強度Rm、硬度HB、

　　品質系數(shù)R/H、共結團數(shù)MEG、石墨化因子K

　　◇測量范圍： 按照ICEC584，型號K（Nicr-Ni）200℃-1370℃ C 2.1-4.2 Si 0-20

　　CEL 2.5-5.0

　　◇測量精度： ＜±℃ CEL±0.047% C±0.039% Si±0.1%

　　◇儀器顯示： 4位LED顯示 數(shù)字500mm 分辨率：1℃

精誠合作 務實創(chuàng)新 開拓進取

　　服務承諾

　　免費安裝 提供化學分析方法

　　免費調試 提供分析工藝流程

　　免費運輸 損耗由本公司負責

　　免費培訓 幫助籌建化驗室

　　儀器實行終身服務 售后服務實行二十四小時響應

　　銷售承諾

　　本公司設備一律到廠安裝調試好檢測結果符合國家允許誤差范圍內再付款

　　主要客戶：金屬鑄造、金屬加工 金屬制造、金屬制品 礦山開發(fā)、采礦、礦石生產、加工等和金屬行業(yè)、礦石有關的企業(yè)和個體

技術參數(shù)

　　應用功能：測量白口、灰口鑄鐵的碳、硅含量計算抗拉強度Rm、硬度HB、

　　顯示數(shù)字高度：500mm；

　　溫度補償范圍：0～0.1℃；

　　配套樣杯類型：K型；

　　測量精度：符合GB223.3～5--88標準

　　顯示溫度單位：攝氏或華氏；

　　測量大時間：240秒。