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在測(cè)試環(huán)境愈發(fā)復(fù)雜的今天，很多因素都會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生比較大的影響，如何將測(cè)試中的干擾降到也是各測(cè)試工程師的難題。本文將簡(jiǎn)單的介紹一些功率分析儀測(cè)試時(shí)常見的干擾現(xiàn)象及處理方式。對(duì)于現(xiàn)階段的測(cè)試系統(tǒng)來(lái)說(shuō)，除待測(cè)信號(hào)以外，理論上還會(huì)有很多種信號(hào)出現(xiàn)在測(cè)試系統(tǒng)中。這些信號(hào)都會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生影響。往往這些信號(hào)都屬于外界干擾，機(jī)械干擾信號(hào)、熱干擾信號(hào)、光干擾信號(hào)、化學(xué)干擾信號(hào)、電磁干擾信號(hào)等。在實(shí)驗(yàn)室測(cè)試時(shí)，測(cè)試環(huán)境比較，機(jī)械干擾、熱干擾、光干擾都會(huì)比較小，但是鑒于實(shí)驗(yàn)室的設(shè)備，電場(chǎng)、電磁都會(huì)比較多，電磁干擾還是很有可能發(fā)生的。