這里只是簡(jiǎn)單的宣傳，不一定符合您的要求，登錄公司網(wǎng)站，可以查看更多詳細(xì)信息。這里只是簡(jiǎn)略的介紹，有任何關(guān)于LabVIEW、LabVIEW開(kāi)發(fā)、LabVIEW編程、LabVIEW程序相關(guān)問(wèn)題，請(qǐng)與我們聯(lián)系。
本系統(tǒng)架構(gòu)包含了硬體架構(gòu)與軟體設(shè)計(jì)兩部分。圖一所示為本套太陽(yáng)能模組特性參數(shù)量測(cè)系統(tǒng)之系統(tǒng)硬體架構(gòu)圖，是由個(gè)人電腦、可程式環(huán)境狀態(tài)產(chǎn)生源、各種感測(cè)裝置、電子負(fù)載、示波器、攝影機(jī)、資料影像輸出入介面卡、測(cè)試機(jī)架與待測(cè)太陽(yáng)能電池模組所構(gòu)成，各單元之功能分述如下：
? 個(gè)人電腦(PC)：個(gè)人電腦為整個(gè)太陽(yáng)能模組量測(cè)系統(tǒng)之大腦，與人機(jī)界面軟體(LabVIEW)配合做為本系統(tǒng)之控制器，它控制整個(gè)系統(tǒng)之運(yùn)作。在軟體規(guī)劃下，系統(tǒng)控制器控制資料流程、指揮系統(tǒng)中儀器之操作、接收量測(cè)資料、執(zhí)行計(jì)算與分析、驗(yàn)證量測(cè)讀值是否有效、作資料儲(chǔ)存管理、以即將測(cè)試結(jié)果顯示在螢?zāi)换蜉敵鲋疗渌苓呇b置。
? 可程式環(huán)境狀態(tài)產(chǎn)生源(Programmable Environment Conditioner，簡(jiǎn)稱PEC)：可程式環(huán)境狀態(tài)產(chǎn)生源用來(lái)產(chǎn)生待測(cè)太陽(yáng)能模組所需之人造環(huán)境測(cè)試源，如照度、溫度、傾斜角與方位角等主要影響太陽(yáng)能模組輸出特性之主要環(huán)境因素，內(nèi)部包含調(diào)光電路、溫度偵測(cè)與控制電路、馬達(dá)驅(qū)動(dòng)電路，調(diào)光電路用來(lái)產(chǎn)生不同強(qiáng)度的模擬日照，溫度偵測(cè)與控制電路根據(jù)所偵測(cè)到的實(shí)際溫度，與所設(shè)定的溫度作一比較，當(dāng)超過(guò)所設(shè)定的溫度時(shí)，則啟動(dòng)風(fēng)扇以進(jìn)行降溫；馬達(dá)驅(qū)動(dòng)電路可控制方位角、傾斜角與燈源位置，除了Z軸方向之控制外，亦接受傾斜角、方位角命令來(lái)控制步進(jìn)馬達(dá)，以調(diào)整整個(gè)測(cè)試機(jī)架之傾斜角與方位角，以作追日控制特性量測(cè)。電腦根據(jù)照度計(jì)與熱電偶之感測(cè)讀值，經(jīng)計(jì)算后送出正確測(cè)試命令給PEC，以形成閉回路控制，確?？沙淌江h(huán)境狀態(tài)產(chǎn)生源之準(zhǔn)確性。
? 各種感測(cè)裝置：有照度計(jì)與熱電偶，用來(lái)感測(cè)光源所產(chǎn)生之照度，以及目前測(cè)試環(huán)境之溫度，感測(cè)裝置為系統(tǒng)可構(gòu)成閉回路控制之重要設(shè)備，其精度愈準(zhǔn)愈可控制量測(cè)準(zhǔn)確度。當(dāng)熱電偶回傳溫度值進(jìn)入電腦后，若超過(guò)所設(shè)定的保護(hù)溫度，電腦即會(huì)下命令透過(guò)資料擷取卡來(lái)控制風(fēng)扇是否開(kāi)啟，以達(dá)到散熱的效果。照度計(jì)與熱電偶分別透過(guò)RS-232與資料擷取卡與電腦連接，以作即時(shí)照度與溫度感測(cè)顯示。
? 電子負(fù)載(E-Load)：電子負(fù)載作為太陽(yáng)能模組之輸出負(fù)載，透過(guò)GPIB(General Purpose Interface Bus，簡(jiǎn)稱GPIB)通訊介面與電腦連接，利用程式設(shè)定方式，可使自動(dòng)化改變電子負(fù)載之負(fù)荷值，以提供不同負(fù)載給待測(cè)太陽(yáng)能模組，如此便可連續(xù)測(cè)的特性曲線上之不同工作點(diǎn)之電壓與電流。
? 示波器：示波器用來(lái)量測(cè)太陽(yáng)能模組在接不同負(fù)載下之輸出電壓與電流，示波器亦透過(guò)GPIB通訊介面與電腦連接，所量到的值回送回電腦，在做完所有測(cè)試點(diǎn)后，所儲(chǔ)存之讀值數(shù)據(jù)，即可畫(huà)出太陽(yáng)能模組之IV特性曲線。所儲(chǔ)存之?dāng)?shù)據(jù)資料，還可做之后不同的分析利用。
? 攝影機(jī)：數(shù)位攝影機(jī)用來(lái)監(jiān)控整個(gè)量測(cè)系統(tǒng)之硬體設(shè)備是否正常運(yùn)作，要是有突發(fā)狀況產(chǎn)生時(shí)，使用者從電腦畫(huà)面上即可作緊急處理，以免發(fā)生災(zāi)害；另外若系統(tǒng)作為太陽(yáng)能模組品質(zhì)管控時(shí)，數(shù)位攝影機(jī)透過(guò)網(wǎng)路與電腦連接，可檢測(cè)出瑕疵產(chǎn)品。

文字內(nèi)容均在附件Word中，同時(shí)上文中提到的例子和資料，均在word中的附件里，可點(diǎn)擊下載。登錄www.bjcyck.com可以查看更多詳細(xì)信息。這里只是簡(jiǎn)略的介紹，有任何關(guān)于LabVIEW、LabVIEW開(kāi)發(fā)、LabVIEW編程、LabVIEW程序相關(guān)問(wèn)題，請(qǐng)與我們聯(lián)系。
測(cè)試機(jī)架與待測(cè)太陽(yáng)能電池模組：本測(cè)試機(jī)架為根據(jù)太陽(yáng)能電池模板之尺寸特別訂作，可作三軸控制，包含光源高度、太陽(yáng)能模組傾斜角、與方位角，電腦經(jīng)由馬達(dá)驅(qū)動(dòng)電路產(chǎn)生所要控制之脈波，即可驅(qū)動(dòng)步進(jìn)馬達(dá)，根據(jù)步進(jìn)角很容易就可計(jì)算出所要送之脈波數(shù)，本系統(tǒng)利用資料擷取卡(DAQ)之?dāng)?shù)位I/O埠，來(lái)產(chǎn)生驅(qū)動(dòng)步進(jìn)馬達(dá)之脈波訊號(hào)。

圖一系統(tǒng)硬體架構(gòu)圖
圖二所示為本套系統(tǒng)之操作流程圖，系統(tǒng)開(kāi)機(jī)后會(huì)先作初始化與自我檢測(cè)，為求量測(cè)資料之可靠度與準(zhǔn)確性，需等到系統(tǒng)內(nèi)所有儀器設(shè)備皆正常后，才允許進(jìn)入?yún)?shù)量測(cè)鑒別程序。系統(tǒng)正常后接下來(lái)為在人機(jī)界面上設(shè)定測(cè)試程序，包含幾個(gè)測(cè)試點(diǎn)之設(shè)定，測(cè)試點(diǎn)多寡會(huì)影響整個(gè)測(cè)試時(shí)間，不同特性曲線量測(cè)設(shè)定，主要有兩類：IV特性曲線、PV特性曲線，接著是所要測(cè)試之環(huán)境條件設(shè)定，包含照度、溫度與角度之設(shè)定。測(cè)試程序設(shè)定好后，可程式環(huán)境狀態(tài)產(chǎn)生源就會(huì)根據(jù)命令產(chǎn)生所要的測(cè)試源，若所產(chǎn)生之測(cè)試源是不正確的，需重新作計(jì)算再一次作修正到測(cè)試源準(zhǔn)確為止，短暫延遲使太陽(yáng)能電池模組輸出響應(yīng)穩(wěn)定后，接著就可一點(diǎn)一點(diǎn)的量測(cè)輸出電壓與電流，后就可畫(huà)出該設(shè)定照度、角度、溫度下之IV特性曲線，并在人機(jī)界面上作顯示或儲(chǔ)存列印。

文字內(nèi)容均在附件Word中，同時(shí)上文中提到的例子和資料，均在word中的附件里，可點(diǎn)擊下載。登錄www.bjcyck.com可以查看更多詳細(xì)信息。這里只是簡(jiǎn)略的介紹，有任何關(guān)于LabVIEW、LabVIEW開(kāi)發(fā)、LabVIEW編程、LabVIEW程序相關(guān)問(wèn)題，請(qǐng)與我們聯(lián)系。
本系統(tǒng)以圖控程式LabVIEW所設(shè)計(jì)的，主要可以分為三個(gè)主要的人機(jī)介面，分別為系統(tǒng)設(shè)定頁(yè)面、系統(tǒng)測(cè)量頁(yè)面與系統(tǒng)讀取頁(yè)面，使用者可以透過(guò)在系統(tǒng)上方中間的三個(gè)按鈕，即可切換不同的頁(yè)面。在系統(tǒng)設(shè)定頁(yè)面部分，包含了系統(tǒng)時(shí)間、現(xiàn)場(chǎng)畫(huà)面、儲(chǔ)存實(shí)驗(yàn)資料相關(guān)設(shè)定、環(huán)境產(chǎn)生源相關(guān)設(shè)定與所使用儀器的相關(guān)通訊設(shè)定；而在系統(tǒng)測(cè)量頁(yè)面，包含了可輸入待測(cè)模組型號(hào)與相關(guān)資料、量測(cè)系統(tǒng)相關(guān)環(huán)境參數(shù)與量測(cè)結(jié)果及相關(guān)計(jì)算數(shù)值的呈現(xiàn)；后使用者可在系統(tǒng)讀取頁(yè)面，將所儲(chǔ)存的實(shí)驗(yàn)資料，直接讀取顯示在螢?zāi)簧?，而不需重新再做一次?shí)驗(yàn)。此系統(tǒng)采用視覺(jué)化的人機(jī)介面，可使操作人員方便清楚的了解系統(tǒng)中之各種功能，而快速輕易的熟悉系統(tǒng)操作。以下針對(duì)各個(gè)人機(jī)介面做一介紹：
1. 系統(tǒng)設(shè)定頁(yè)面
圖三為本系統(tǒng)之設(shè)定頁(yè)面，在此人機(jī)介面中包含系統(tǒng)時(shí)間顯示、選擇測(cè)量資料儲(chǔ)存方式與路徑、設(shè)定并顯示現(xiàn)場(chǎng)畫(huà)面、方位角與入射角的調(diào)整、光源位置高低調(diào)整、照度計(jì)通訊協(xié)定設(shè)定與光源調(diào)整參數(shù)設(shè)定。

圖三系統(tǒng)設(shè)定頁(yè)面
2. 系統(tǒng)測(cè)量頁(yè)面
圖四為本系統(tǒng)之測(cè)量頁(yè)面，在此人機(jī)介面中包含LeCroy LT342示波器測(cè)量值顯示、系統(tǒng)環(huán)境條件、太陽(yáng)能模組溫度監(jiān)控與保護(hù)、所待測(cè)太陽(yáng)能模組型號(hào)與尺寸大小的輸入、PRODIGIT 3254高功率交直流電子負(fù)載設(shè)定與操控、顯示實(shí)驗(yàn)所測(cè)量之模組相關(guān)特性曲線與計(jì)算后之相關(guān)特性參數(shù)。

這里只是簡(jiǎn)單的宣傳，不一定符合您的要求，登錄公司網(wǎng)站，可以查看更多詳細(xì)信息。這里只是簡(jiǎn)略的介紹，有任何關(guān)于LabVIEW、LabVIEW開(kāi)發(fā)、LabVIEW編程、LabVIEW程序相關(guān)問(wèn)題，請(qǐng)與我們聯(lián)系。

我們所建立的系統(tǒng)，是第二種虛擬實(shí)驗(yàn)「較實(shí)際的版本」。我們的系統(tǒng)主要是為了電子設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)，并于實(shí)驗(yàn)室中附掛電子電路以趨近真實(shí)經(jīng)驗(yàn)，另外能針對(duì)顯示與分析目的而設(shè)定儀器/量測(cè)系統(tǒng)。不論是完整或特定的電子電路，均可應(yīng)用此方法，但其實(shí)僅透過(guò)紙本就可呈現(xiàn)電路原型。使用者可真實(shí)互動(dòng)實(shí)際的電子元件與儀器，甚至可透過(guò)手邊的面包板與元件，直接于電路中配置/連接電子元件。
硬體架構(gòu)
整體系統(tǒng)均以虛擬儀控為中心。虛擬儀器包含工業(yè)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)的電腦或工作站，并已搭載驅(qū)動(dòng)程式、高成本效益的硬體(如插入式介面卡)、功能強(qiáng)大的應(yīng)用軟體，以執(zhí)行傳統(tǒng)儀器的功能。但透過(guò)虛擬儀控，工程師可使用圖形化的程式設(shè)計(jì)軟體，依自己的特殊需求而建立使用者定義的解決方案。此外，早已普及的個(gè)人電腦即可使用虛擬儀控，提供傳統(tǒng)儀器所無(wú)法達(dá)到的功能。圖1 即為整體系統(tǒng)的簡(jiǎn)圖。

圖1. 遠(yuǎn)端電子實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)的整體簡(jiǎn)圖
軟體開(kāi)發(fā)平臺(tái)
圖2即顯示遠(yuǎn)端電子實(shí)驗(yàn)的流程。我們使用LabVIEW而程式設(shè)計(jì)NI ELVIS。使用者介面主要可分為4大區(qū)塊：實(shí)驗(yàn)輸出指示元、硬體穩(wěn)定度與網(wǎng)表(此文字檔包含后電路設(shè)計(jì)的文字?jǐn)⑹?檢查指示元、文字訊息、實(shí)驗(yàn)流程控制。

圖2. 遠(yuǎn)端電子實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)的軟體流程圖
使用者可虛擬配置3D 電路元件，再透過(guò)NI ELVIS 的原型制作機(jī)板完成電路設(shè)計(jì)。NI ELVIS 原型制作機(jī)板的3D 虛擬縮放/旋轉(zhuǎn)功能，可讓使用者真正感受到實(shí)際的互動(dòng)，并于虛擬機(jī)板上附掛其他電路，就好像是真的在用硬體實(shí)驗(yàn)。
使用者介面可遠(yuǎn)端監(jiān)控的實(shí)驗(yàn)室設(shè)定。實(shí)驗(yàn)輸出指示元?jiǎng)t具備數(shù)字與圖形的輸出區(qū)塊。數(shù)字與圖形的輸出區(qū)塊，將分別透過(guò)數(shù)字與圖像的格式而顯示實(shí)驗(yàn)結(jié)果。這些結(jié)果可能是電路中的潛在點(diǎn)或潛在電流。硬體穩(wěn)定度檢查指示元與網(wǎng)表檢查指示元，均屬于警示區(qū)塊。只要實(shí)驗(yàn)課程期間發(fā)生錯(cuò)誤事件，都會(huì)警告使用者。由于電子元件的使用壽命有限，因此好能避免硬體元件故障的情況，以獲得有意義的結(jié)果。透過(guò)文字訊息控制元與指示元，學(xué)生就可與實(shí)驗(yàn)導(dǎo)師溝通。只要透過(guò)STOP 按鈕，即可開(kāi)始或終止實(shí)驗(yàn)。

這里只是簡(jiǎn)單的宣傳，不一定符合您的要求，登錄公司網(wǎng)站，可以查看更多詳細(xì)信息。這里只是簡(jiǎn)略的介紹，有任何關(guān)于LabVIEW、LabVIEW開(kāi)發(fā)、LabVIEW編程、LabVIEW程序相關(guān)問(wèn)題，請(qǐng)與我們聯(lián)系。


使用NI FlexRIO、labview開(kāi)發(fā)經(jīng)濟(jì)合算的3D和高清視頻測(cè)試方案
概述：使用NI FlexRIO來(lái)創(chuàng)建FlexMedia V系列產(chǎn)品線，實(shí)現(xiàn)一種可以進(jìn)行高速率、自動(dòng)化和低電壓差分信號(hào)（Low-Voltage Differential Signaling，LVDS）視頻測(cè)試的經(jīng)濟(jì)合算的解決方案。

使用NI FlexRIO
對(duì)FlexMedia V系列設(shè)備的設(shè)想是為高速、低電壓差分信號(hào)視頻測(cè)試創(chuàng)建一系列模塊。為了創(chuàng)建這些產(chǎn)品，我們考慮了各種不同的平臺(tái)，終選擇了PXI平臺(tái)，因?yàn)槠渚o湊的體積、模塊化硬件，行業(yè)內(nèi)廣泛認(rèn)可并可用互補(bǔ)模塊。在我們系統(tǒng)的核心，我們使用NI FlexRIO來(lái)提供現(xiàn)成的現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列（Field Programmable Gate Array，F(xiàn)PGA）來(lái)實(shí)現(xiàn)高速處理，并使用NI FlexRIO適配器模塊開(kāi)發(fā)工具包（Adapter Module Development Kit，MDK）來(lái)定制我們的I/O端口至輸入到FPGA的視頻信號(hào)接口。使用NI FlexRIO，我們可以專注于視頻測(cè)試應(yīng)用，而不是花費(fèi)大量時(shí)間在數(shù)據(jù)處理、測(cè)試引擎設(shè)計(jì)或者電腦接口上面。
我們使用NI LabVIEW FPGA模塊對(duì)FPGA進(jìn)行編程，它可以使用代碼生成技術(shù)將圖形化代碼合成為可在FPGA上執(zhí)行的二進(jìn)制文件。 這使我們可以使用框圖方法來(lái)開(kāi)發(fā)我們的FPGA代碼，這種方法更直觀地描述了FPGA固有的并行性。我們已經(jīng)擁有內(nèi)部VHDL知識(shí)和我們可以利用的硬件IP核，而LabVIEW FPGA模塊又幫助我們提高了生產(chǎn)率。使用基礎(chǔ)設(shè)施組件中內(nèi)嵌的LabVIEW FPGA IP包可使我們輕松的集成VHDL IP，如PCI Express總線接口和I/O集成，并可提高圖形化代碼開(kāi)發(fā)效率。這有助于我們快速定制設(shè)備，降低傳統(tǒng)FPGA編程的時(shí)間和成本。
整體而言，我們估計(jì)現(xiàn)在開(kāi)發(fā)具有多個(gè)應(yīng)用程序的完整產(chǎn)品耗時(shí)大概是開(kāi)發(fā)一個(gè)完全定制產(chǎn)品的耗時(shí)的一半。此外，在每個(gè)產(chǎn)品的研發(fā)中，我們一般只需三到四個(gè)工作資源，相對(duì)于完全定制產(chǎn)品所需要的，這只是很小的一部分了。

15. 這里只是簡(jiǎn)單的宣傳，不一定符合您的要求，登錄公司網(wǎng)站，可以查看更多詳細(xì)信息。這里只是簡(jiǎn)略的介紹，有任何關(guān)于LabVIEW、LabVIEW開(kāi)發(fā)、LabVIEW編程、LabVIEW程序相關(guān)問(wèn)題，請(qǐng)與我們聯(lián)系。

使用NI LabVIEW FPGA 建立高速控制系統(tǒng)，以測(cè)試美國(guó)太空總署(NASA) 微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS) 的微快門(Microshutter) 裝置
概述：使用NI LabVIEW FPGA Module與NI PXI-7813R可重設(shè)I/O模組，以定位磁石位置并進(jìn)行輸出，進(jìn)一步以的同步作業(yè)控制MEMS微快門。

何謂微快門？
微快門是100 x 200 μm 的長(zhǎng)方形快門，藉由其開(kāi)關(guān)動(dòng)作決定是否需阻擋光線。快門轉(zhuǎn)軸安裝于氮化矽的撓曲(Flexure) 之上，以磁性涂層(Magnetic coating) 進(jìn)行運(yùn)動(dòng)，并可透過(guò)電力連結(jié)進(jìn)行靜電鎖存。
當(dāng)我們開(kāi)始進(jìn)行此專案時(shí)，快門陣列的制作程序?qū)崬殚_(kāi)發(fā)中的復(fù)雜新技術(shù)。NASA 所制作的單一陣列為365 行與171 列所構(gòu)成，共超過(guò)62,000 組快門。我們將快門固定于基板(Substrate) 上，并以1 組格線(Grid) 銜接陣列，使其可判斷(Assert) 行列乃至于各組快門。若要開(kāi)啟快門，我們將1 組磁石傳送過(guò)陣列前端，借以將高電壓傳導(dǎo)至每組快門的行列中。該磁場(chǎng)將開(kāi)啟快門，而行列之間的靜電電荷將維持其開(kāi)啟狀態(tài)。
我們自行制作快門陣列，以針對(duì)整體設(shè)計(jì)的某些概念進(jìn)行測(cè)試。但此種測(cè)試的制程更為小心謹(jǐn)慎。透過(guò)NI PCI-7344 的4 軸式步進(jìn)馬達(dá)控制器，還有NI MID-7604 電動(dòng)馬達(dá)驅(qū)動(dòng)器，我們所開(kāi)發(fā)的軟體可控制真空室(Vacuum chamber)、快門控制儀控作業(yè)、相機(jī)，與其他裝置，以評(píng)估陣列的整體效能。
透過(guò)此系統(tǒng)測(cè)試，我們發(fā)現(xiàn)未受控制的快門釋放(Shutter release)，將影響快門的效能。在此不進(jìn)行控制的方法中，關(guān)閉快門行列的電源，才能夠關(guān)閉快門。在每次開(kāi)關(guān)的過(guò)程中，快門均對(duì)擋光板(Baffle) 產(chǎn)生沖擊，并大幅縮短其使用壽命。
開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)決定使用磁石以同步開(kāi)啟快門，并以磁場(chǎng)緩沖關(guān)閉快門時(shí)的沖擊力道。于2005 年時(shí)，測(cè)試實(shí)驗(yàn)室完成同步化的鎖存與釋放(Latching-and-release) 功能。