武漢回收LPDDR4芯片 收購AMD超盛CPU

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其主要功能是用于檢測電容充電完畢后u的漏電流指標(biāo)。檢測指標(biāo)合格后，電容樣品將被安全放電并流向后道包裝環(huán)節(jié)，而測試不通過的樣品則被篩選出來另作處理。在電容生產(chǎn)過程中，采用的電容老化測試設(shè)備是否地檢測出產(chǎn)品性能至關(guān)重要。如果對u的漏電流指標(biāo)測試精度不達(dá)標(biāo)，可能會(huì)導(dǎo)致部分不合格產(chǎn)品流入后道成品中，降低電容產(chǎn)品的大批量可靠性。若將指標(biāo)調(diào)節(jié)過于苛刻，將導(dǎo)致生產(chǎn)過程中部分合格產(chǎn)品被誤判為失效，造成不必要的報(bào)廢損失，降低經(jīng)濟(jì)效益。