金屬表面天瑞儀器膜厚儀型號
分析精度5%分析范圍0~50微米儀器重量90kg元素范圍從硫到鈾分析時間30S
軟件界面
人性化的軟件界面,讓操作變得更加便捷。
曲線的中文備注,讓您的操作更易上手。
儀器硬件功能的實時監(jiān)控,讓您的使用更加放心。

X熒光鍍層測厚儀配置
01 立的X/Y/Z軸控制系統(tǒng)
02 微焦斑X光管
03 可變高壓電源
04 防撞板外加防撞激光保護檢測器對儀器進行雙重安全保護
05 Fast-SDD探測器
06 雙激光定位裝置
07 標配可自動切換的準直孔和濾光片

鍍層測厚儀在使用前為減少測量的誤差,可以進行簡單的調(diào)零。用附送的鋁或者鐵調(diào)零板調(diào)零即可。調(diào)零方法:
1、將探頭垂直按壓在調(diào)零板中間的位置,保持探頭的穩(wěn)定。
2、按下按鍵,屏幕會提示壓緊探頭,再根據(jù)提示把探頭提起15cm以上。
3、屏幕顯示0.0則調(diào)零完畢。
4、完成后,可以把有標準值的測試片放在調(diào)零板上測量。測量的數(shù)值與標準測試片的誤差范圍之內(nèi),則說明儀器可以正常使用了。
標簽:測厚儀品牌x射線測厚儀
江蘇天瑞儀器股份有限公司
-
孫經(jīng)理
-
江蘇蘇州昆山市中華園西路1888號
-
400-7102-888
-
13814856624
-
信息由發(fā)布人自行提供,其真實性、合法性由發(fā)布人負責(zé)。交易匯款需謹慎,請注意調(diào)查核實。