1.產(chǎn)量增加:ICT在線測(cè)試儀的檢測(cè)速度非常快,如300個(gè)元件的線路板約3秒鐘全檢測(cè),產(chǎn)量可以大大提高。
二手TR-5001E,ICT58.COM元件測(cè)試儀
2.降低成本:A使維修工作簡(jiǎn)單化,維修速度加快,減少維修人員,降低維修成本;B降低因誤判而損壞的元件成本;C減少維修備品庫(kù)存。
3.使產(chǎn)品一次良品率提高:提供大量的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù),以便生產(chǎn)管理者對(duì)生產(chǎn)工藝進(jìn)行及時(shí)監(jiān)督、調(diào)整、管理。
4.減少操誤判錯(cuò)誤:ICT對(duì)錯(cuò)誤檢測(cè)將準(zhǔn)確穩(wěn)定,避免人員對(duì)故障的錯(cuò)誤猜測(cè)。
5.減少操作費(fèi):ICT是一次性對(duì)整板進(jìn)行測(cè)試,也可以同時(shí)測(cè)試多塊聯(lián)板,只需一個(gè)操作員工。
6.產(chǎn)品經(jīng)過(guò)ICT測(cè)試以后,為后段的功能測(cè)試掃除一切隱藏性問(wèn)題。
二手德律ICT在線測(cè)試儀ICT58 銷售的所有設(shè)備 為二手設(shè)備 非原廠廠家 二手儀器銷售 二手儀器買賣
二手ICT,ICT在線測(cè)試儀,線路板檢測(cè)儀,二手德律ICT,星河ICT,捷智ICT,OKANO ICT
TR-518FV , TR-518FE , TR-518FR , TR-5001 , SRC6001 , JET300NT,
ICT在線測(cè)試儀是德律科技繼成功推出TR518F之后,運(yùn)用更之零組件及軟體技術(shù)所開發(fā)之新一代機(jī)種。其主要特性在于測(cè)試 速度較傳統(tǒng)ICT快一倍以上。 此外,更具有可程式化開短路學(xué)習(xí)模式設(shè)定,滿足各種不同待測(cè)物之測(cè)試特性。對(duì)于高針點(diǎn)的產(chǎn)品或大批量之制程,無(wú)疑是一臺(tái)抵兩臺(tái)的選擇,無(wú)論在設(shè)備本身或治具投資上均可因此而大大降低成本。
二手德律ICT在線測(cè)試儀ICT58 銷售的所有設(shè)備 為二手設(shè)備 非原廠廠家 二手儀器銷售 二手儀器買賣
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TR-518FV , TR-518FE , TR-518FR , TR-5001 , SRC6001 , JET300NT,
在線測(cè)試儀規(guī)格參數(shù)表
項(xiàng) 目
詳 細(xì) 參 數(shù)
測(cè)試點(diǎn)數(shù)
標(biāo)準(zhǔn)配備:256點(diǎn),可以每片開關(guān)板64點(diǎn)或128點(diǎn)擴(kuò)充至1792點(diǎn)
大型主機(jī)(8u):可以每片關(guān)開板256點(diǎn)擴(kuò)充至3584點(diǎn)
測(cè)試步驟
步驟: 12288步驟,可依需求擴(kuò)充
測(cè)試時(shí)間
開路/短路測(cè)試:每1000點(diǎn)約1Sec(Typical DUT)
元件測(cè)試:每一元件約0.6mSec至30mSec(Typical DUT)
測(cè)試范圍
電阻:0.1Ω至40MΩ 電晶體/二極體: 0.1V至9.99V
電容:1.0PF至100mF Zener Diode: 標(biāo)準(zhǔn),0.1V至9.99V,選配HV,0.1V至48V
電感:1.0UH至60H
隔離點(diǎn)電路
隔離點(diǎn)自動(dòng)選擇,每測(cè)試步驟5點(diǎn)
測(cè)試值上下限設(shè)定范圍
上限:+1%至999% 下限:-1%至-99%
可測(cè)電路板尺寸
標(biāo)準(zhǔn)配備: 420mm(寬)×300mm(深)×100mm(高)
選購(gòu)配備: 500mm(寬)×350mm(深)×130mm(高),更大尺寸基板可依需求訂做.
主控制電腦
Pentium等級(jí)以上PC
監(jiān)視器
15〃夜晶顯示器
記憶設(shè)備
3.5 1.44MB,磁碟機(jī)一臺(tái),80GB以上硬式磁碟機(jī)一臺(tái)
列印機(jī)
標(biāo)準(zhǔn)配備:微型印表機(jī)
*其它選購(gòu)配備
Windows作業(yè)系統(tǒng)環(huán)境,多國(guó)語(yǔ)言使用界面(英文、中文、日文)
Trace Level 圖形顯示檢修軟體。
網(wǎng)絡(luò)連線及遠(yuǎn)端遙控維修,Bar Code Reader(Printer)Package,
Auto Test Program Generator,Data Transfer Generator
光電保護(hù)及多連板自動(dòng)蓋章功能
實(shí)裝板程式燒錄功能
*選項(xiàng)測(cè)試功能
HP TestJet功能:
可測(cè)IC數(shù)量:標(biāo)準(zhǔn)配備,64頻道/MUX CARD
擴(kuò)充,960頻道 測(cè)試時(shí)間:2mSec/Pin
Frequency Measurement: 4Channels,<100MHz
Duty Ratio Measurement: Watch Dog Timer 4 Channels, 1Hz-900KHz
Voltage Measurement: 8 Channels, -30V--+30V
Current Measurement: 1 Channels, 2uA and up
電源
AC100V-120V,200V-240V,50Hz-60Hz,350W
尺寸重量
OFF LINE TYPE: 960mm(寬)×850mm(深)×1530mm(高),約200Kg
IN LINE TYPE: 1000mm(寬)×720mm(深)×17200mm(高),約350Kg
光電保護(hù)及多連板自動(dòng)蓋章功能
實(shí)裝板程式燒錄功能
*選項(xiàng)測(cè)試功能 Agilent TestJet功能:
可測(cè)IC數(shù)量:標(biāo)準(zhǔn)配備,64頻道/MUX CARD
擴(kuò)充,960頻道測(cè)試時(shí)間:2mSec/Pin
Frequency Measurement: 4Channels,<100MHz
Duty Ratio Measurement: Watch Dog Timer 4 Channels, 1Hz-900KHz
Voltage Measurement: 8 Channels, -30V--+30V
Current Measurement: 1 Channels, 2uA and up
氣壓零件 FESTO DNG-80-160(200)-PPV-A氣壓缸,下壓力:290Kg/6Bar
FESTO DNG-100-160(200)-PPV-A氣壓缸,下壓力:450Kg/6Bar
FESTO DNG-125-160(200)-PPV-A氣壓缸,下壓力:720Kg/6Bar
工作氣壓 4-6Kg/C㎡耗氣量:4 Liter/cycle
電源 AC100V-120V,200V-240V,50Hz-60Hz,350W
尺寸重量 OFF LINE TYPE: 960mm(寬)×850mm(深)×1530mm(高),約200Kg
IN LINE TYPE: 1000mm(寬)×720mm(深)×17200mm(高),約350Kg
工作電壓:220V
配置:標(biāo)配(320點(diǎn))
成色:二手九成新
JET-300在線測(cè)試機(jī)(IN CIRCUIT TESTER)是經(jīng)由量測(cè)電路板上所有零件,包括電阻、電容、電感、二極管、晶體管、FET、SCR、LED 和IC等,檢測(cè)出電路板產(chǎn)品的各種缺點(diǎn)諸如:線路短路、斷路、缺件、錯(cuò)件、零件不良或裝配不良等,并明確地指出缺點(diǎn)的所在位置,幫助使用者確保產(chǎn)品的品質(zhì),并提高不良品檢修效率。它還率先使用可用數(shù)億次開關(guān)的磁簧式繼電器(REED RELAY),是當(dāng)今測(cè)試涵蓋率*高,測(cè)試*穩(wěn)定,使用*方便,提供資料*的在線測(cè)試機(jī)。
系統(tǒng)性能
JET-300在線測(cè)試機(jī)(IN CIRCUIT TESTER)是經(jīng)由量測(cè)電路板上所有零件,包括電阻、電容、電感、二極體、電晶體、FET、SCR、LED 和IC等, 檢測(cè)出電路板產(chǎn)品的各種缺點(diǎn)諸如 : 線路短路、斷路、缺件、錯(cuò)件、零件不良或裝配不良等, 并明確地指出缺點(diǎn)的所在位置, 幫助使用者確保產(chǎn)品的品質(zhì), 并提高不良品檢修效率. 它還率先使用可用數(shù)億次開關(guān)的磁簧式繼電器(REED RELAY), 是當(dāng)今測(cè)試涵蓋率**, 測(cè)試穩(wěn)定, 使用方便, 提供資料的在線測(cè)試機(jī).
以下是JET-300的產(chǎn)品特性
硬體規(guī)格
REED RELAY的掃描板
JET300的掃描板採(cǎi)用了可耐用二億次的REED RELAY,解決了ICT 掃描板容易損壞的問(wèn)題, 由于REED RELAY 的應(yīng)用,使JET-300在性能上大有改善。諸如:
1.Zener diode 測(cè)試電壓可達(dá)50v,所有測(cè)試點(diǎn)皆可使用。
2.小電容和小電感量測(cè)較準(zhǔn)確和穩(wěn)定,較不受溫度的影響。
3.電容極性的可偵測(cè)率較用CMOS RELAY時(shí)大為提高。
4.可耐高壓又有殘存電壓偵測(cè)功能,掃描板受到充分的保護(hù)。
5.配置功能測(cè)試的可行性較高。