【SIMS測(cè)試】
服務(wù)背景：半導(dǎo)體行業(yè)需監(jiān)控晶圓中ppb級(jí)摻雜元素分布。
檢測(cè)重要性：揭示離子注入濃度剖面，影響晶體管閾值電壓。
檢測(cè)周期：7-10個(gè)工作日（含深度剖析）。

廣電計(jì)量能力：
1、賽默飛二次離子質(zhì)譜，深度分辨率<5nm；
2、檢測(cè)硅片中硼元素梯度分布（檢出限0.1ppb）；

廣電計(jì)量擁有的化學(xué)分析檢測(cè)設(shè)備和的人才隊(duì)伍。能力范圍覆蓋提供有毒有害物質(zhì)檢測(cè)（RoHS、REACH、POPs、VOC，消耗臭氧層物質(zhì)等）、材料成分性能分析、可靠性壽命預(yù)計(jì)、食品接觸材料等多領(lǐng)域測(cè)試、評(píng)估、認(rèn)證及培訓(xùn)服務(wù)。

【XRD檢測(cè)】
背景：1912年勞厄發(fā)現(xiàn)晶體X射線衍射現(xiàn)象，1953年沃森-克里克據(jù)此解析DNA結(jié)構(gòu)。
重要性：材料相組成決定力學(xué)性能與化學(xué)穩(wěn)定性，是質(zhì)量控制必檢項(xiàng)目。
產(chǎn)品類型：合金相分析、藥品晶型、礦物組成。
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：JCPDS PDF卡片庫(kù)、GB/T 23413（納米材料）。


【同步輻射XRD檢測(cè)】
背景：同步輻射光源亮度比常規(guī)X光高10?倍，1980年代開啟材料動(dòng)態(tài)結(jié)構(gòu)研究新紀(jì)元。
重要性：捕捉電池充放電、催化反應(yīng)中的瞬態(tài)相變過(guò)程。
產(chǎn)品類型：鋰離子電池正極、燃料電池電解質(zhì)。

廣電計(jì)量可提供一站式同步輻射XRD檢測(cè)-高分辨原位晶體結(jié)構(gòu)演變分析檢測(cè)服務(wù)。