非金屬礦石光譜儀是一種用于分析非金屬礦石成分和特性的儀器。它通過測量礦石樣品在不同波長的光下的吸收、反射或發(fā)射情況，來獲取礦石的光譜信息。根據(jù)不同的光譜特征，可以分析礦石的化學(xué)成分、晶體結(jié)構(gòu)、礦物組合、顏色特征等。 非金屬礦石光譜儀通常采用光譜儀、光源、樣品臺等組成。其中，光源發(fā)出特定波長的光，并經(jīng)過樣品后，被光譜儀接收和記錄。

便攜式XRF技術(shù)以及其它分析技術(shù)正在改變我們?nèi)粘氖碌默F(xiàn)代化測井的方式。向地理信息系統(tǒng)（GIS）、地質(zhì)信息管理系統(tǒng)（GIMS），以及3維可視化和建模軟件包實時傳送客觀測井信息的技術(shù)，使采礦行業(yè)獲得了革命性的發(fā)展。

技術(shù)參數(shù)： 　　
◇測量參數(shù)： 測定C、Si、CEL、△Q、△QM，計算抗拉強度Rm、硬度HB、品質(zhì)系數(shù)R/H、共結(jié)團數(shù)MEG、石墨化因子K 　　
◇測量范圍： 按照ICEC584，型號K（Nicr-Ni）200℃-1370℃ C 2.1-4.2 Si 0-20 　　CEL 2.5-5.0 　　
◇測量精度： ＜±℃ CEL±0.047% C±0.039% Si±0.1% 　　
◇儀器顯示： 4位LED顯示 數(shù)字500mm 分辨率：1℃