ICT設(shè)備的制造廠家各異，全球主要ICT自動(dòng)測(cè)試設(shè)備生產(chǎn)廠商主要有Agilent Technologies安捷倫(美國(guó))，Teradyne泰瑞達(dá)(美國(guó))、Check Sum（美國(guó)）、AEROFLEX（美國(guó)）、WINCHY瑩琦、Hioki（日本）、IFR(AEROFLEX并購(gòu))、Takaya（日本）、Tescon（日本）, Okano（日本）、系統(tǒng)（臺(tái)灣）、JET(捷智）、TRI（德律）、SRC星河、安碩（ANSO）、Concord、Rohde & Schwarz、Scorpion 、Shindenski、SPEA、Tecnost-MTI、Testronics、WK Test 、Schuhll、Viper、PTI等等品牌。不同品牌ICT的測(cè)試原理相同或相似。

上世紀(jì)80年代前后，日本將美國(guó)同類產(chǎn)品加以簡(jiǎn)化和小型化，并改成使用氣動(dòng)壓床式，代表的有日本TESCON，OKANO，使得ICT簡(jiǎn)單易用并低成本，使之成為電子廠不可或缺的檢測(cè)設(shè)備，并迅速推廣普及。80年代臺(tái)灣由全球令西方頭疼的電子電腦假貨來源地逐漸成為電子代工制造重要基地，于上世紀(jì)80年代后期，90年代初期，臺(tái)灣開始完全仿制TESCON測(cè)試儀，并推出眾多品牌的壓床式ICT，其價(jià)格更加低廉，迫使曾全球市占率的日本TESCON淡出市場(chǎng)，并因臺(tái)灣電子代工業(yè)大發(fā)展而大幅提高市占率。從上世紀(jì)70年代開始，國(guó)內(nèi)即有開發(fā)類似的靜態(tài)測(cè)試儀，1993年，中國(guó)本土品牌更日本韓國(guó)臺(tái)灣及香港開發(fā)出全亞洲臺(tái)windows版的ICT。時(shí)至今日，美國(guó)泰瑞達(dá)和安捷倫仍是，成為事實(shí)上的此類技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)!

二手德律TR5001E ICT的功能能在數(shù)秒鐘內(nèi)檢出電路板上的零件-電阻、電容、電感、電晶體、二級(jí)管、穩(wěn)壓二級(jí)管、光偶器、繼電器等零件。能夠先找出制程不良所在，如漏件、錯(cuò)件、開路、短路、反向等不良問題。能夠?qū)⑸鲜鰡栴}以印表機(jī)印出結(jié)果，包括故障位置、零件標(biāo)準(zhǔn)值、測(cè)試值等，以供維修人員查看。

二手德律ICT在線測(cè)試儀ICT58 銷售的所有設(shè)備 為二手設(shè)備 非原廠廠家 二手儀器銷售 二手儀器買賣 二手ICT,ICT在線測(cè)試儀，線路板檢測(cè)儀，二手德律ICT,星河ICT,捷智ICT，OKANO ICT TR-518FV , TR-518FE , TR-518FR , TR-5001 , SRC6001 , JET300NT, 規(guī)格 . 測(cè)試點(diǎn)數(shù) 可達(dá)3200(模擬)/1600(數(shù)字) . 作業(yè)系統(tǒng) 微軟Microsoft Windows 2000/XP/7 . 測(cè)試治具 兩段式壓床 . 可測(cè)電路板尺寸 標(biāo)準(zhǔn): (寬) 360 mm x (長(zhǎng)) 300 mm x (高) 100 mm

TR518FR是德律科技為滿足電子產(chǎn)業(yè)中各類產(chǎn)品對(duì)測(cè)試環(huán)境不同之要求，所推出之全系列產(chǎn)品之一。其切換電路板乃應(yīng)用且高壽命之機(jī)械式Reed Relay，適用模擬產(chǎn)品及高壓電流之檢測(cè)，并可整合動(dòng)態(tài)量測(cè) 。而高密度之設(shè)計(jì)及軟件技術(shù)，使TR518FR之測(cè)點(diǎn)可高達(dá)2560測(cè)試點(diǎn)，其速度亦較傳統(tǒng)的ICT快80%以上。

二手TR-5001E元件測(cè)試儀 性，成本低，適合選擇 美國(guó)安捷倫公司針對(duì)SMD IC接腳開路難以完整偵測(cè)的問題，成功的研發(fā)出Agilent TestJet Technology的技術(shù)以因應(yīng)。本公司在取得安捷倫公司的專利授權(quán)后，已于JET-300 ICT 系統(tǒng)上配備了此技術(shù)，大幅提升了數(shù)位電路板的可偵測(cè)率。電腦主機(jī)板、介面卡或傳真機(jī)、數(shù)據(jù)機(jī)的機(jī)板皆可得到滿意的測(cè)試效果。
定義　在線測(cè)試，ICT，In-Circuit Test，是通過對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段。它主要檢查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況，具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)。 是一種元器件級(jí)的測(cè)試方法用來測(cè)試裝配后的電路板上的每個(gè)元器件
檢查制成板上在線元器件的電氣性能和電路網(wǎng)絡(luò)的連接情況。能夠定量地對(duì)電阻、電容、電感、晶振等器件進(jìn)行測(cè)量，對(duì)二極管、三極管、光耦、變壓器、繼電器、運(yùn)算放大器、電源模塊等進(jìn)行功能測(cè)試，對(duì)中小規(guī)模的集成電路進(jìn)行功能測(cè)試，如所有74系列、Memory 類、常用驅(qū)動(dòng)類、交換類等IC。
在線測(cè)試通常是生產(chǎn)中道測(cè)試工序，能及時(shí)反應(yīng)生產(chǎn)制造狀況，利于工藝改進(jìn)和提升。ICT測(cè)試過的故障板,因故障定位準(zhǔn)，維修方便，可大幅提高生產(chǎn)效率和減少維修成本。因其測(cè)試項(xiàng)目具體，是現(xiàn)代化大生產(chǎn)品質(zhì)的重要測(cè)試手段之一。