半導(dǎo)體測試探針的主要應(yīng)用領(lǐng)域包括芯片設(shè)計驗證、晶圓測試和半導(dǎo)體成品測試。它起著連接芯片/晶圓與測試設(shè)備，并進(jìn)行信號傳輸?shù)暮诵淖饔?，對于半?dǎo)體產(chǎn)品的質(zhì)量控制具有重要意義。

探針一般由精密儀器鉚接預(yù)壓后形成，針頭、針尾、彈簧、外管四個基本部件。

由于半導(dǎo)體產(chǎn)品體積小，特別是芯片產(chǎn)品尺寸非常小，探針尺寸要求達(dá)到微米級。它是一種精密電子元器件，具有較高的制造技術(shù)含量。

在晶圓或芯片測試的過程中，通常會使用探針來準(zhǔn)確連接晶圓或芯片的引腳或錫球與測試機(jī)，以便檢測產(chǎn)品的導(dǎo)通性、電流性、功能性和老化性等性能指標(biāo)。

探針，作為一種精密的檢測工具，在科學(xué)研究、工業(yè)制造、醫(yī)學(xué)診斷等領(lǐng)域中扮演著至關(guān)重要的角色。它是一種能夠與被測物體表面接觸或非接觸交互，從而獲取物理、化學(xué)、生物等多方面信息的產(chǎn)品。其中，五孔探針的設(shè)計與應(yīng)用廣泛多樣，從簡單的機(jī)械觸點(diǎn)到復(fù)雜的電子傳感器，都在各領(lǐng)域發(fā)揮重要作用。