AT-01在線測(cè)試儀 為了防止對(duì)AT-01測(cè)試程序的任意修改，對(duì)使用者進(jìn)行分類并相應(yīng)賦予權(quán)限，具體分為：“操作員”，“技術(shù)員”，“工程師”，修改程序內(nèi)容輸入密碼才可有效 AT-01在線測(cè)試儀 設(shè)備自檢

AT-01在線測(cè)試儀 使用設(shè)備之前，對(duì)設(shè)備本身的測(cè)試板和繼電器板進(jìn)行檢測(cè)，并且將其測(cè)試結(jié)果顯示在屏幕上，您可通過(guò)測(cè)試結(jié)果判斷設(shè)備能否正常工作，以產(chǎn)品測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性 AT-01在線測(cè)試儀 條形碼輸入

AT-01在線測(cè)試儀 利用條碼機(jī)讀取所有測(cè)試后PCB上的條形碼，以便對(duì)生產(chǎn)產(chǎn)品或維修產(chǎn)品進(jìn)行有效的管理 AT-01在線測(cè)試儀 條形碼輸入

AT-01在線測(cè)試儀 三點(diǎn)掃描的特點(diǎn) 1.無(wú)須另外追加硬件治具 2.無(wú)部件封裝模式的限制 3.可檢測(cè)出含冷焊在內(nèi)的各種故障 4.對(duì)尺寸大的數(shù)字部件特別有效 5.測(cè)試速度快，檢測(cè)率高 AT-01在線測(cè)試儀

AT-01在線測(cè)試儀 邊緣掃描測(cè)試 測(cè)試基板的*新技術(shù)標(biāo)準(zhǔn) IEEE Standard 1149.1Flash記憶棒安裝在PCB的狀態(tài)下利用JTAG(Boundary-Scan 1149.1)測(cè)試對(duì)IC進(jìn)行短路檢查，PCB光板測(cè)試等基本項(xiàng)目與IC內(nèi)部程序測(cè)試。 AT-01在線測(cè)試儀

80年代臺(tái)灣由全球令西方頭疼的電子電腦假貨來(lái)源地逐漸成為電子代工制造重要基地，于上世紀(jì)80年代后期，90年代初期，臺(tái)灣開(kāi)始完全仿制TESCON測(cè)試儀，并推出眾多品牌的壓床式ICT，其價(jià)格更加低廉，迫使曾全球市占率的日本TESCON淡出市場(chǎng)，并因臺(tái)灣電子代工業(yè)大發(fā)展而大幅提高市占率。從上世紀(jì)70年代開(kāi)始，國(guó)內(nèi)即有開(kāi)發(fā)類似的靜態(tài)測(cè)試儀，1993年，中國(guó)本土品牌更日本韓國(guó)臺(tái)灣及香港開(kāi)發(fā)出全亞洲臺(tái)windows版的ICT。時(shí)至今日，美國(guó)泰瑞達(dá)和安捷倫仍是，成為事實(shí)上的此類技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)!

優(yōu)點(diǎn)： 1、縮短測(cè)試時(shí)間：一般組裝電路板如約300個(gè)零件ICT的大約是3-4秒鐘。 對(duì)復(fù)雜，而且還包含了上電后的功能測(cè)試，象TTL、OPAMP、Frequency、TREE、BSCAN、MEMORY等，所以將ATE立為另一個(gè)類別了！ 2、測(cè)試結(jié)果的一致性：ICT的質(zhì)量設(shè)定功能，能夠透過(guò)電腦控制，嚴(yán)格控制質(zhì)量。 3、容易檢修出不良的產(chǎn)品：ICT有多種測(cè)試技術(shù)，高度的可靠性，檢測(cè)不良品種、且準(zhǔn)確。 4、測(cè)試員及技術(shù)員水平需求降低：只要普通操作員，即可操作與維修。 5、減省庫(kù)存、備頻、維修庫(kù)存壓力、大大提高生產(chǎn)成品率。 6、大大提升品質(zhì)。減少產(chǎn)品的不良率，提高企 業(yè)形象。

慨述 1.1 定義 ICT在線測(cè)試儀，ICT，In-Circuit Test，是通過(guò)對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段。它主要檢查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開(kāi)、短路情況，具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)。

ICT使用范圍廣，測(cè)量準(zhǔn)確性高，對(duì)檢測(cè)出的問(wèn)題指示明確，是一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段，即使電子技術(shù)水準(zhǔn)一般的工人處理有問(wèn)題的PCBA也非常容易。使用ICT能地提高生產(chǎn)效率，降低生產(chǎn)成本。