雙頭探針是一種常用的電子測試工具，廣泛應(yīng)用于電路板測試、半導(dǎo)體測試、電子元器件測試等領(lǐng)域。其材料和尺寸的選擇對測試的精度、耐用性和適用性有重要影響。

雙頭探針的材料通常包括以下幾個部分：

1. 針頭材料
鈹銅（BeCu）：具有高彈性、高導(dǎo)電性和耐磨性，是常用的針頭材料。
磷青銅（Phosphor Bronze）：彈性好，導(dǎo)電性適中，成本較低。
*鎢銅（WCu）：硬度高，耐磨性強，適合高頻測試。
不銹鋼（Stainless Steel）：耐腐蝕性強，但導(dǎo)電性較差，通常用于非導(dǎo)電性測試。

2. 針管材料
黃銅（Brass）：成本低，導(dǎo)電性好，但硬度較低。
不銹鋼（Stainless Steel）：耐腐蝕、硬度高，適合高頻率測試。

3. 彈簧材料
琴鋼線（Music Wire）：彈性好，耐疲勞性強，是常用的彈簧材料。
不銹鋼線（Stainless Steel Wire）：耐腐蝕，適合特殊環(huán)境。

4. 鍍層材料
金（Gold）：導(dǎo)電性，抗氧化性強，適合測試。
鎳（Nickel）：耐磨性好，成本較低，常用于普通測試。
錫（Tin）：成本低，但抗氧化性較差。



雙頭探針的特點
1. 多點測量：能夠同時或分別測量兩個點的參數(shù)，提率。
2. ：探針頭設(shè)計精密，適用于測量。
3. 多功能性：可根據(jù)需求選擇不同類型的探針，適應(yīng)多種應(yīng)用場景。
4. 靈活性：探針頭之間的距離和角度可調(diào)，適應(yīng)不同測量需求。



雙頭探針（Dual-tip probe）是一種用于測量、檢測或分析的設(shè)備，通常具有兩個立的探測頭。這種結(jié)構(gòu)設(shè)計使其能夠同時或分別進行多點測量，適用于多種應(yīng)用場景，如電子測試、材料分析、生物醫(yī)學(xué)檢測等。

雙頭探針的基本結(jié)構(gòu)通常包括以下部分：
1. 探針頭：
- 兩個立的探測頭，通常由導(dǎo)電材料（如金屬）或特殊材料（如陶瓷、聚合物）制成。
- 探針頭的形狀和尺寸根據(jù)應(yīng)用需求設(shè)計，常見的有針尖形、球形、扁平形等。
2. 針桿：
- 連接探針頭和主體的桿狀結(jié)構(gòu)，通常具有絕緣或?qū)щ娞匦浴?br /> - 針桿的長度和直徑根據(jù)使用場景調(diào)整。
3. 針管
- 支撐和固定探針頭的部分，通常由絕緣材料（如塑料、陶瓷）或金屬制成。
- 主體結(jié)構(gòu)可能包含調(diào)節(jié)裝置，用于調(diào)整探針頭之間的距離或角度。