3D 測(cè)量過程主要有兩種類型：接觸式和非接觸式。接觸式 3D 測(cè)量解決方案通過物理接觸（例如接觸式測(cè)頭、關(guān)節(jié)臂和某些坐標(biāo)測(cè)量機(jī)）來探測(cè)物體。非接觸式 3D 測(cè)量技術(shù)，顧名思義，是一種無需接觸物體即可采集 3D 數(shù)據(jù)的方法。它們包括 3D 激光掃描儀、結(jié)構(gòu)光掃描儀、攝影測(cè)量解決方案和光學(xué) CMM 掃描儀

ATOS Capsule新技術(shù)應(yīng)用:
藍(lán)光技術(shù)（435nm～450nm）：窄范圍藍(lán)光，CCD在圖像采集過程中只接受藍(lán)光波長(zhǎng)的光，不受干擾，的測(cè)量數(shù)據(jù)；
數(shù)字光柵：對(duì)產(chǎn)生的藍(lán)光進(jìn)行條紋分割和數(shù)字編碼，CCD解碼圖像數(shù)據(jù)并計(jì)算相位，以獲得攝像機(jī)坐標(biāo)系中的坐標(biāo)
三重掃描：從每個(gè)掃描數(shù)據(jù)中可以獲得三個(gè)不同角度的數(shù)據(jù)，并且可以根據(jù)三條光線的交點(diǎn)計(jì)算三維曲面點(diǎn)。獲取完整準(zhǔn)確的點(diǎn)云數(shù)據(jù)
高速：CCD僅需1-2秒即可獲得1200萬(wàn)個(gè)點(diǎn)，確保每次測(cè)量都能獲得全范圍的三維點(diǎn)云
自監(jiān)測(cè)機(jī)制：實(shí)時(shí)感知掃描條件的變化，如照明、校準(zhǔn)狀態(tài)、擬合精度和位移變化，并做出反應(yīng)以確保測(cè)量精度
高剛性和穩(wěn)定性：鋁制集成外殼，三個(gè)立隔室設(shè)計(jì)，透鏡前安裝非反射薄玻璃

逆向工程被廣泛地應(yīng)用到新產(chǎn)品開發(fā)和產(chǎn)品改型設(shè)計(jì)、產(chǎn)品仿制、質(zhì)量分析檢測(cè)等領(lǐng)域，它的作用是:
1、縮短產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、開發(fā)周期，加快產(chǎn)品的更新?lián)Q代速度;
2、降低企業(yè)開發(fā)新產(chǎn)品的成本與風(fēng)險(xiǎn);
3、加快產(chǎn)品的造型和系列化的設(shè)計(jì);
4、適合單件、小批量的零件制造，特別是模具的制造