半導(dǎo)體測(cè)試探針的主要應(yīng)用領(lǐng)域包括芯片設(shè)計(jì)驗(yàn)證、晶圓測(cè)試和半導(dǎo)體成品測(cè)試。它起著連接芯片/晶圓與測(cè)試設(shè)備，并進(jìn)行信號(hào)傳輸?shù)暮诵淖饔?，?duì)于半導(dǎo)體產(chǎn)品的質(zhì)量控制具有重要意義。

探針一般由精密儀器鉚接預(yù)壓后形成，針頭、針尾、彈簧、外管四個(gè)基本部件。

由于半導(dǎo)體產(chǎn)品體積小，特別是芯片產(chǎn)品尺寸非常小，探針尺寸要求達(dá)到微米級(jí)。它是一種精密電子元器件，具有較高的制造技術(shù)含量。

在晶圓或芯片測(cè)試的過(guò)程中，通常會(huì)使用探針來(lái)準(zhǔn)確連接晶圓或芯片的引腳或錫球與測(cè)試機(jī)，以便檢測(cè)產(chǎn)品的導(dǎo)通性、電流性、功能性和老化性等性能指標(biāo)。

探針結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)(如針形)作為半導(dǎo)體試驗(yàn)設(shè)備的關(guān)鍵部件、針頭材料(如鎢、鷸銅)、彈性大小等都會(huì)影響探針的穩(wěn)定性、細(xì)微性、信號(hào)傳導(dǎo)精度等，從而影響探針的測(cè)試精度。

垂直探針可以對(duì)應(yīng)高密度信號(hào)觸點(diǎn)的待測(cè)半導(dǎo)體產(chǎn)品的細(xì)間距排列，針尖接觸待測(cè)半導(dǎo)體產(chǎn)品所需的縱向位移可以通過(guò)針體本身的彈性變形來(lái)提供。懸臂探針為探針部提供適當(dāng)?shù)目v向位移，用于通過(guò)橫向懸臂接觸待測(cè)半導(dǎo)體產(chǎn)品，以避免探針部對(duì)待測(cè)半導(dǎo)體產(chǎn)品施加過(guò)大的針壓。

隨著自然資源的日益枯竭和環(huán)境保護(hù)意識(shí)的增強(qiáng)，金屬回收行業(yè)逐漸成為一種重要的經(jīng)濟(jì)產(chǎn)業(yè)。金屬回收不僅能減少資源浪費(fèi)和環(huán)境污染，還可以提供再利用的原材料，降低生產(chǎn)成本。在金屬回收市場(chǎng)中，鍍金探針作為含金屬成分較高的物品，備受關(guān)注

在收集到的鍍金探針廢料中，可能包含其他金屬和非金屬雜質(zhì)。因此，分揀是必要的步驟，以便將廢料分類和分離。分揀可以通過(guò)人工或自動(dòng)化設(shè)備進(jìn)行。人工分揀需要經(jīng)過(guò)培訓(xùn)的工作人員，他們根據(jù)廢料的類型和特征進(jìn)行分類。自動(dòng)化設(shè)備可以通過(guò)傳感器和圖像識(shí)別技術(shù)自動(dòng)分揀廢料。

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