配合不同探測(cè)器的選擇，使Sigma 廣泛地適用于您的應(yīng)用：無論是正在開發(fā)的新材料、用于質(zhì)量檢查的顆粒還是生物或地質(zhì)標(biāo)本，該電鏡可助您研究各種樣品。在極端條件下，利用可變壓力（VP）成像，借助NanoVPlite，即使在低電壓下，也能在非導(dǎo)體上獲得出色的圖像和分析結(jié)果。

STEM探測(cè)器和經(jīng)典的極靴下背散射電子探測(cè)器類似，一般也采用半導(dǎo)體材質(zhì)，并分割為好幾塊，
其中一塊位于樣品的正下方，主要用于接收正透過樣品的透射電子，即所謂的明場(chǎng)模式；還有的位于明場(chǎng)探測(cè)器的周圍，接收經(jīng)過散射的透射電子，即所謂的暗場(chǎng)模式。

激光掃描共聚焦顯微鏡是在傳統(tǒng)熒光顯微鏡成像的基礎(chǔ)上采用激光作為光源，通過使用激光掃描裝置和共軛聚焦裝置，利用計(jì)算機(jī)對(duì)所觀察的對(duì)象進(jìn)行數(shù)字圖像處理的現(xiàn)代化光學(xué)顯微鏡。它能以的分辨率采集細(xì)胞或組織內(nèi)部的熒光標(biāo)記圖像、觀察細(xì)胞或組織內(nèi)部的微細(xì)結(jié)構(gòu)和形態(tài)學(xué)變化、在亞細(xì)胞水平觀察胞內(nèi)重要離子濃度或 pH 的變化、結(jié)合電生理技術(shù)觀察和記錄細(xì)胞的生理活動(dòng)。使用激光掃描共聚焦顯微鏡，還可以對(duì)觀察樣品進(jìn)行斷層掃描和成像、重構(gòu)和分析細(xì)胞的三維空間結(jié)構(gòu)。

特點(diǎn)
使用多視角成像功能查找樣品在成像物鏡中的佳位置
在進(jìn)行樣品信息的后期處理前，從不同視角采集信息對(duì)整個(gè)樣品成像
通過重組不同視角的信息來提高圖像的分辨率，然后使用特殊的去卷積算法進(jìn)一步提高圖像質(zhì)量

組織透明處理技術(shù)能夠讓您深入大型生物樣品內(nèi)，例如：組織切片、大腦、胚胎、器官球狀體或活組織切片。您可以使用增強(qiáng)的光學(xué)穿透深度來捕獲整個(gè)器官的熒光信號(hào)。這也令其成為一項(xiàng)具有發(fā)展前景的技術(shù)，例如：檢測(cè)小鼠大腦神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)。

電子經(jīng)過一系列電磁透鏡成束后，打到樣品上與樣品相互作用，會(huì)產(chǎn)生二次電子、背散射電子、俄歇電子以及X射線等一系列信號(hào)。所以需要不同的探測(cè)器譬如二次電子探測(cè)器、X射線能譜分析儀等來區(qū)分這些信號(hào)以獲得所需要的信息。雖然X射線信號(hào)不能用于成象，但習(xí)慣上，仍然將X射線分析系統(tǒng)劃分到成象系統(tǒng)中。
有些探測(cè)器造價(jià)昂貴，比如Robinsons式背散射電子探測(cè)器，這時(shí)，可以使用二次電子探測(cè)器代替，但需要設(shè)定一個(gè)偏壓電場(chǎng)以篩除二次電子。

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