高分辨ZEISS電子顯微鏡價(jià)格

更新時(shí)間1：2025-10-07 信息編號(hào)：383cltq5h4e96c 舉報(bào)維權(quán)

供應(yīng)商	北京瑞科中儀科技有限公司店鋪
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關(guān)鍵詞	電子顯微鏡價(jià)格,電子顯微鏡代理,電子顯微鏡價(jià)格,電子顯微鏡廠家
所在地	北京市海淀區(qū)建材城西路50號(hào)2號(hào)樓3層031室

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10年

產(chǎn)品詳細(xì)介紹

Gemini 3 型鏡筒介紹
Gemini 3 型鏡筒是專為表面靈敏成像領(lǐng)域的苛刻任務(wù)而設(shè)計(jì)，它確保成像在 1 kV 至 30 kV 的所有工作條件下都能達(dá)到高分辨率。它由兩個(gè)協(xié)同工作的組件組成，即 Nano-twin 物鏡和智能自動(dòng)光路調(diào)節(jié)—— 它們組成一個(gè)全新的電子光學(xué)引擎。 BSE 的優(yōu) 勢(shì)也可以為您提供良好的圖像襯度，讓您可以從樣品中提取出盡可能多的信息。

? 通過 Nano-twin 物鏡實(shí)現(xiàn)低電壓下的優(yōu) 化高分辨率
? 通過新的大視野概覽模式實(shí)現(xiàn)樣品導(dǎo)航和高分辨率成像之間的無縫過渡
? 通過新的自動(dòng)聚焦功能和新的快速鏡筒對(duì) 中算法實(shí)現(xiàn)高速優(yōu)化圖像質(zhì)量。

大部分的背散射電子能夠穿過 Inlens SE 探測(cè)器，并被 EsB 探測(cè)器收集。此外， Inlens EsB 探測(cè)器還可有選擇地收集不同能量的背散射電子。如果出射角大于 15 度，則 BSE 無法進(jìn)入鏡筒，但會(huì)被 AsB (角度選擇背散射) 或可抽插式 aBSD 探測(cè)器探測(cè)到。aBSD 探測(cè)器能夠提供樣品的成分襯度、形貌和 3D 表面信息。樣品室背散射電子探測(cè)器( BSD )和掃描透射電子探測(cè)器可以在低加速電壓下擁有更率，且能實(shí)現(xiàn)超速成像。

在工業(yè)質(zhì)量、失效分析或研究環(huán)境中，由于掃描電子顯微鏡可提供高分辨率成像和高空間分辨率元素化學(xué)信息，所以它
是金相學(xué)和失效分析應(yīng)用的理想之選。

擴(kuò)展功能
■ 與蔡司電鏡可實(shí)現(xiàn)聯(lián)用, 實(shí)現(xiàn)樣品的多尺度多維度研究;
■ 搭載第三方配件, 如冷熱臺(tái), 拉伸臺(tái), 實(shí) 現(xiàn)樣品原位 4D 分析;
■ 搭載 Airyscan 實(shí)現(xiàn)高分辨熒光成像;
■ 配置 ZEN Intellesis 軟件提供基于機(jī)器學(xué)習(xí) 的圖像分割解決方案,可用于鑒別復(fù)雜樣品的不同相組織。

成像靈活.光學(xué)顯微鏡和共聚焦顯微鏡二合一
■ 實(shí)現(xiàn)反射光和透射光的觀察, 同時(shí)也可進(jìn) 行形貌表征;
■ 使用寬場(chǎng)觀察方式實(shí)現(xiàn)樣品的定位, 便于共聚焦顯微鏡進(jìn)—步原位分析;
■ 無需切換顯微鏡, 減少儀器設(shè)置時(shí)間, 提高獲得結(jié)果的效率。