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IMC觀察多功能第三方檢測(cè)中心

更新時(shí)間1:2025-10-01 信息編號(hào):8a2lrv2is4f7c8 舉報(bào)維權(quán)
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供應(yīng)商 優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司 店鋪
認(rèn)證
報(bào)價(jià) 面議
關(guān)鍵詞 SEM掃描,掃描電鏡,掃描電鏡分析,SEM測(cè)試
所在地 江蘇省昆山市玉山鎮(zhèn)南淞路299號(hào)
楊先生
򈊡򈊨򈊩򈊡򈊢򈊧򈊣򈊧򈊡򈊧򈊦 448135625

4年

產(chǎn)品詳細(xì)介紹

掃描電鏡(Scanning Electron Microscopy,SEM)是一種高分辨率的電子顯微鏡技術(shù),可用于對(duì)形貌和表面特征進(jìn)行分析和觀察。相比于傳統(tǒng)的透射電鏡,SEM不需要樣本薄片,可以直接對(duì)樣品進(jìn)行觀察,因此適用于分析各種形狀和大小的樣品。 SEM分析過程中,樣品表面被電子束轟擊后,會(huì)產(chǎn)生二次電子和背散射電子。這些電子會(huì)被探測(cè)器捕捉并轉(zhuǎn)換為電信號(hào),形成圖像。SEM圖像具有高分辨率和高對(duì)比度,可以顯示出樣品表面的微觀結(jié)構(gòu)和形貌特征

優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)昆山檢測(cè)中心具備掃描電鏡分析能力(SEM&EDS分析),可針對(duì)表面異物分析、IMC形貌觀察、錫須觀察、焊點(diǎn)失效分析等進(jìn)行分析測(cè)試。放大倍率可達(dá)30萬(wàn)倍;EDS通過樣品表面激發(fā)出的特征X-RAY獲取樣品表面的成分信息,準(zhǔn)確精度達(dá)0.5%。該機(jī)臺(tái)是質(zhì)量檢驗(yàn)、失效分析中不可缺少的設(shè)備

SEM+EDS分析:
高能電子束轟擊樣品表面,激發(fā)各種信號(hào)。可以對(duì)陶瓷、金屬、粉末、塑料等樣品進(jìn)行形貌觀察及成分分析:
SEM主要利用背散射電子(BEI)和二次電子(SEI)來(lái)成像
EDS通過特征X-RAY獲取樣品表面的成分信息。

所屬分類:檢測(cè)服務(wù)/材料檢測(cè)

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