探測器SDD元素范圍從Na~U

EDX3600H是天瑞儀器推出的一款 X射線熒光光譜儀 (XRF)，為 銅合金*等金屬材料的元素成分分析而設(shè)計。它采用的 **能量色散 X 射線熒光 (EDXRF)** 技術(shù)，能夠快速、準(zhǔn)確地測定銅合金中從 **鈉 (Na)** 到 **鈾 (U)** 的各種元素含量，滿足工業(yè)生產(chǎn)、質(zhì)量控制和科研開發(fā)等領(lǐng)域的分析需求。

X射線熒光光譜儀（XRF，X-ray Fluorescence Spectrometer）是一種基于X射線熒光原理的分析儀器，主要用于元素成分的定性和定量分析。其通過X射線管或放射性同位素源產(chǎn)生高能X射線（稱為初級X射線或入射X射線），照射到樣品表面。 當(dāng)入射X射線的能量樣品中某元素的內(nèi)層電子（如K層或L層電子）的結(jié)合能時，電子會被激發(fā)并從原子中逸出，形成空穴。 原子內(nèi)層電子被激發(fā)后，外層電子會躍遷到內(nèi)層空穴以填補，同時釋放能量。 -這種能量以X射線的形式釋放，稱為熒光X射線（次級X射線）。探測器將X射線光子轉(zhuǎn)換為電信號，并通過多道分析器（MCA）記錄其能量和強度。 根據(jù)熒光X射線的能量，可以確定樣品中存在的元素（定性分析）

黃銅分析儀EDX3600H材質(zhì)分析X熒光光譜儀的主要技術(shù)參數(shù)：
*元素分析范圍： Na (11) - U (92)
探測器： SDD 探測器
X 光管：微型 X 光管
測量時間：通常為 10-60 秒
樣品尺寸： 直徑 ≤ 50 mm, 高度 ≤ 40 mm
重量：約 50 kg

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