X熒光光譜儀的優(yōu)勢：
1、制樣簡單：通常情況下是物理制樣。試樣經(jīng)過簡單的破碎、研磨成粉末壓片或熔融制成；
2、分析范圍廣：理論上從元素Be到92號(hào)元素鈾均可進(jìn)行分析；
3、測量范圍寬：從0.001%到均可進(jìn)行分析。

X熒光光譜儀優(yōu)點(diǎn)：
1、分析速度高。測定用時(shí)與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘*可以測完樣品中的全部待測元素；
2、X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測定；
3、非破壞分析。在測定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好；
4、X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析；
5、分析精密度高；
6、制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。

X熒光光譜儀的使用注意事項(xiàng)：
1、 為了保持儀器的良好外觀，需經(jīng)常對(duì)儀器表面做清潔工作，用軟布擦拭灰塵；
2、 向樣品腔內(nèi)放樣品時(shí)，一定要注意清潔，不可使樣品塵粒掉入其中，否則會(huì)污染X光管和探測器窗口，造成測量失準(zhǔn)和探頭損壞；
3、 樣品蓋需要用酒精棉球做好清潔工作；
4、為使儀器能長期工作正常，需定期對(duì)各項(xiàng)參數(shù)進(jìn)行測試，并進(jìn)行調(diào)整；
5、 儀器只允許經(jīng)培訓(xùn)的人員才能操作，其他人員一律不能操作；
6、 使用、保存和搬動(dòng)中，要特別小心，以免磕碰、損傷外表、損壞內(nèi)部線路。

x熒光光譜儀介紹
x熒光光譜儀樣品種類樣品狀態(tài)一般有固體塊狀樣品、粉末樣品和液體樣品等。
（1）固體塊狀樣品包括黑色金屬、有色金屬、電鍍板、硅片、塑料制品及橡膠制品等，其中金屬材料占了很大的比例。
（2）粉末樣品包括各種礦產(chǎn)品，水泥及其原材料，金屬冶煉的原材料和副產(chǎn)品如鐵礦石、煤、爐渣等；還有巖石土壤等。
（3）液體樣品油類產(chǎn)品、水質(zhì)樣品以及通過化學(xué)方法將固體轉(zhuǎn)換成的溶液等。

x熒光光譜儀
1．分析原理：能量色散X射線熒光分析法
2．分析元素：K～U任意元素,鉛（Pb）、汞（Hg）、六價(jià)鉻（Cr6+）、
（PBB）和醚（PBDE）中的溴
3．工作條件：工作溫度：10-30℃相對(duì)濕度：≤70%
電源：AC220V±10%、50/60Hz
4．技術(shù)指標(biāo)新高靈敏度探測器（分辨率達(dá)149Ev），精密的放大電路，
提高Cd、Pb元素的靈度。
檢出下限(Cd/Pd)：Cd/Cr/Hg/Br≦2ppm,Pb≦5ppm
樣品形狀：任意大小，任意不規(guī)則形狀
樣品類型：塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體
小樣品腔尺寸：300×300×100mm
大樣品腔尺寸：樣品尺寸不受限制
X射線管：靶材/Mo管電壓/5～50kV管電流/大1～1000μA
照射直徑：2、5、8mm
探測器：Si(PIN)半導(dǎo)體高靈敏度探測器
濾光片：八種新型濾光片自動(dòng)選擇
樣品定位：微動(dòng)載物平臺(tái)（選配）
樣品觀察：130萬分辨率彩色CCD攝像機(jī)
微區(qū)分析：X光聚焦微區(qū)分析系統(tǒng)（選配）軟件
定量分析：理論Alpha

x熒光光譜儀1．分析原理：能量色散X射線熒光分析法
2．分析元素：K～U任意元素,鉛（Pb）、（Hg）、六價(jià)鉻（Cr6+）、
（PBB）和醚（PBDE）中的溴
3．工作條件：工作溫度：10-30℃相對(duì)濕度：≤70%
電源：AC220V±10%、50/60Hz
4．技術(shù)指標(biāo)新高靈敏度探測器（分辨率達(dá)149Ev），精密的放大電路，
提高Cd、Pb元素的靈度。
檢出下限(Cd/Pd)：Cd/Cr/Hg/Br≦2ppm,Pb≦5ppm
樣品形狀：任意大小，任意不規(guī)則形狀
樣品類型：塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體
小樣品腔尺寸：300×300×100mm
大樣品腔尺寸：樣品尺寸不受限制
X射線管：材/Mo管電壓/5～50kV管電流/大1～1000μA
照射直徑：2、5、8mm
探測器：Si(PIN)半導(dǎo)體高靈敏度探測器
濾光片：八種新型濾光片自動(dòng)選擇
樣品定位：微動(dòng)載物平臺(tái)（選配）
樣品觀察：130萬分辨率彩色CCD攝像機(jī)
微區(qū)分析：X光聚焦微區(qū)分析系統(tǒng)（選配）軟件
定量分析：理論Alpha

原理和技術(shù)：手持式礦石元素分析儀主要基于光譜技術(shù)，其中常用的是光電子發(fā)射光譜（LIBS）和X射線熒光光譜（XRF）。LIBS技術(shù)通過激光脈沖激發(fā)樣品，使其產(chǎn)生等離子體，通過分析等離子體發(fā)射的光譜來確定元素成分。XRF技術(shù)則利用樣品受到X射線激發(fā)后產(chǎn)生的熒光來分析元素成分。這些技術(shù)具有非破壞性、快速、準(zhǔn)確的特點(diǎn)。

多元素分析：手持式礦石元素分析儀可以同時(shí)分析多種元素，包括常見的金屬元素如鐵、銅、鉛、鋅等，以及稀土元素、稀有金屬等。它可以提供全面的元素成分信息，幫助礦石勘探人員和冶金工程師了解礦石的質(zhì)量和潛在價(jià)值。

數(shù)據(jù)處理和顯示：手持式礦石元素分析儀通常配備了數(shù)據(jù)處理和顯示功能，可以實(shí)時(shí)顯示分析結(jié)果。它可以提供元素含量的數(shù)字結(jié)果，也可以以圖表或譜圖的形式展示，方便用戶進(jìn)行數(shù)據(jù)分析和解讀。

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