產品特點
1.小型化、、高速度、易操作，高靈敏度、分析
2.可同時分析40種元素
3.采用多準直器多濾光片和扣背景技術
4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器提供出色的短期重復性和長期再現性以及出色的元素峰分辨率
5.記數數字多道電路設計，雙真空抽速機構，真空度自動穩(wěn)定系統
6.標配基本參數法軟件，多任務，多窗口操作
7.薄膜濾光片技術，有效提高輕元素檢出限
全新設計的XTEST分析軟件
軟件內核包括基本參數法（FP），經驗系數法（EC）,可輕松分析各類樣品。 光譜處理參數包括用于定義背景連續(xù)性，堆積峰和峰總和，平滑度以及測量到的峰背景光譜的數量 對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的完全校正，即所有基質效應，增強和吸收。
譜顯示：峰定性，KLM標記，譜重疊比較，可同時顯示多個光譜圖 可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應，將光峰強度建模為高斯函數。 可以使用純基本參數方法，具有分散比的基本參數（對于包含大量低Z材料的樣品）或通過簡單的小二乘擬合進行定量分析。 基本參數分析可以基于單個多元素標準，多個標準或沒有標準的樣品。
鐵礦石光譜儀通常采用光柵光譜儀或干涉光譜儀的原理。樣品通過樣品室或探頭被照射光源照射，樣品會吸收特定波長的光，而其他波長的光則被反射或透射。這些吸收、反射或透射光會被光譜儀接收并分析。
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