礦石光譜儀是一種用于分析礦石成分和結(jié)構(gòu)的儀器。它利用光的特性來測量礦石樣品在不同波長下的吸收、反射和透射情況,從而推斷出礦石的組成和特性。
礦石光譜儀通常由光源、光柵、檢測器和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)組成。光源發(fā)出特定波長的光束,經(jīng)過光柵的分光作用,將光束分成不同波長的光線。這些光線經(jīng)過礦石樣品后,部分被吸收、反射或透射。檢測器會測量礦石樣品在不同波長下的光強(qiáng)度,并將數(shù)據(jù)傳輸給數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。
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全新設(shè)計的XTEST分析軟件
軟件內(nèi)核包括基本參數(shù)法(FP),經(jīng)驗系數(shù)法(EC),可輕松分析各類樣品。 光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性,堆積峰和峰總和,平滑度以及測量到的峰背景光譜的數(shù)量 對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的完全校正,即所有基質(zhì)效應(yīng),增強(qiáng)和吸收。
譜顯示:峰定性,KLM標(biāo)記,譜重疊比較,可同時顯示多個光譜圖 可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應(yīng),將光峰強(qiáng)度建模為高斯函數(shù)。 可以使用純基本參數(shù)方法,具有分散比的基本參數(shù)(對于包含大量低Z材料的樣品)或通過簡單的小二乘擬合進(jìn)行定量分析。 基本參數(shù)分析可以基于單個多元素標(biāo)準(zhǔn),多個標(biāo)準(zhǔn)或沒有標(biāo)準(zhǔn)的樣品。
鐵礦石光譜儀是一種用于分析鐵礦石樣品中的化學(xué)成分和礦物組成的儀器。它通過測量鐵礦石樣品在不同波長的電磁輻射下的吸收或發(fā)射光譜,來確定樣品中的元素和礦物組成。
特點(diǎn)優(yōu)勢
快速:能在短時間內(nèi)獲取礦石的成分信息,大大提高了勘探和分析效率。
無損檢測:不會對礦石樣品造成損害,有利于后續(xù)的深入研究和分析。
多元素檢測:可以同時對礦石中的多種元素進(jìn)行檢測,覆蓋范圍廣,為礦產(chǎn)勘探提供全面的元素分析數(shù)據(jù)。
操作簡便:儀器的操作界面通常較為簡潔,即使是非人員也能快速上手。
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